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儀器設(shè)備
電子探針實(shí)驗(yàn)室
來(lái)源:國(guó)土資源部東北亞礦產(chǎn)資源評(píng)價(jià)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 發(fā)布日期:2018/06/05 點(diǎn)擊量:

所屬單位:國(guó)土資源部東北亞礦產(chǎn)資源評(píng)價(jià)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

電子探針是進(jìn)行固態(tài)樣品表面形貌、結(jié)構(gòu)觀察和微區(qū)成分分析測(cè)試的最主要儀器,是礦物學(xué)、巖石學(xué)、地球化學(xué)、礦床學(xué)、構(gòu)造地質(zhì)學(xué)、比較行星學(xué)和冶金材料科學(xué)等研究領(lǐng)域最基礎(chǔ)的原位微束微區(qū)分析儀器。

電子探針利用高能匯聚電子束作為激發(fā)源轟擊固態(tài)樣品表面,產(chǎn)生各種有用信號(hào)(如二次電子、背散射電子、陰極熒光、特征X射線、連續(xù)X射線)。通過(guò)對(duì)相應(yīng)電子圖像(二次電子圖像、背散射圖像、陰極發(fā)光圖像)的采集和分析,可以觀察樣品的表面的形貌、礦物相間的關(guān)系和內(nèi)部結(jié)構(gòu)特征;通過(guò)對(duì)特征X射線的波長(zhǎng)(波譜儀WDS)或能量(能譜儀EDS)的測(cè)定和射線強(qiáng)度的測(cè)量可以對(duì)樣品微區(qū)元素組成做定性和定量分析。

電子探針具有以下特點(diǎn):(1)分析區(qū)域很小,可完成小于1μm2區(qū)域的成分分析;(2)分析的元素范圍廣,可測(cè)Be-U元素;(3)不破壞樣品,可重復(fù)分析;(4)除了單點(diǎn)分析外,可進(jìn)行線掃描分析和面掃描分析,以多種方式查明元素的分布狀態(tài)和空間變化規(guī)律;(5)應(yīng)用范圍廣,可測(cè)試各類(lèi)固態(tài)樣品;(6)分析快捷且成本較低。


實(shí)驗(yàn)室概況

電子探針實(shí)驗(yàn)室隸屬于國(guó)土資源部東北亞礦產(chǎn)資源評(píng)價(jià)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室。目前擁有日本JEOL電子探針一臺(tái)(JXA-8230)。

實(shí)驗(yàn)室目前可以實(shí)現(xiàn)礦物、巖石、材料等各類(lèi)固體樣品的微區(qū)形貌和結(jié)構(gòu)觀察、高精度的微區(qū)(微米級(jí))無(wú)損成分定量分析、高精度的元素線掃描和面掃描分析。實(shí)驗(yàn)室面向國(guó)內(nèi)外地球科學(xué)領(lǐng)域的科研人員和研究生開(kāi)放,主要服務(wù)于固體地球科學(xué)領(lǐng)域研究,包括巖石圈演化、礦產(chǎn)資源、環(huán)境科學(xué)、天體和行星演化等課題項(xiàng)目。

主要的應(yīng)用有:

(1)背散射圖像觀察(BSE);

(2)二次電子圖像觀察(SEI);

(3)常規(guī)造巖礦物(包括氧化物、硅酸鹽、磷酸鹽、硫酸鹽、碳酸鹽礦物)中主量元素含量分析;

(4)金屬硫化物中主要元素含量分析;

(5)造巖礦物中主要元素的面掃描分析(X-ray Mapping),如石榴石中Mg、Fe、Mn等元素;


 儀器設(shè)備

.日本電子JXA-8230型電子探針

 

該儀器由日本JEOL公司制造,于2014年2月開(kāi)始安裝使用。儀器配備鎢燈絲/六硼化鑭電子槍、4道波譜儀、8塊分光晶體、OXFORD公司能譜儀和JEOL公司的陰極發(fā)光探測(cè)器。儀器束流范圍為10-5~ 10-12A,目前可分析F-U間的元素。

該儀器可以獲取高品質(zhì)的背散射圖像(BSE)、二次電子圖像(SEI)和陰極發(fā)光圖像(CL),用以觀察礦物相內(nèi)部和不同礦物相之間的顯微結(jié)構(gòu)關(guān)系。同時(shí),根據(jù)需要可以對(duì)礦物成分進(jìn)行點(diǎn)分析、線掃描分析、面掃描分析(同時(shí)可完成四個(gè)元素的面掃描),考察礦物元素在微米尺度上的組成及變化。


 

開(kāi)放措施:

實(shí)驗(yàn)室對(duì)學(xué)校內(nèi)外的研究人員開(kāi)放。研究人員/儀器使用者,在經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員的操作培訓(xùn)后,可以自行在儀器上進(jìn)行觀察和測(cè)試分析,實(shí)驗(yàn)室提供技術(shù)支持和服務(wù)保障。 


 

 樣品準(zhǔn)備和注意事項(xiàng):

1.擬分析樣品應(yīng)拋磨平整、表面潔凈。所測(cè)試樣品可以是礦物晶體、探針片、樹(shù)脂靶等。

2.擬分析樣品拋磨之后需鍍導(dǎo)電膜(鍍碳或鍍金,可以在本實(shí)驗(yàn)室完成)。樣品在鍍導(dǎo)電膜之后盡量避免觸碰其表面。

3.進(jìn)行塊狀樣品分析時(shí):把樣品切割成大小合適的單元,直徑1cm左右(或小于1 cm×1cm),厚度要小于0.5 cm,表面平整,具有光滑的鏡面。

實(shí)驗(yàn)室位置:吉林省長(zhǎng)春市朝陽(yáng)區(qū)建設(shè)街2199號(hào) 地球科學(xué)學(xué)院225室 歡迎來(lái)訪

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